HAST試驗箱不飽和型

一、產品概述

HAST試驗箱不飽和型該設備主要是測試產品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，

主要用于對 電工、電子產品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理 以及其它相關性能進行測試，測試后，通過檢定來判斷產品的性能是否能夠達到要求，以便供產品的設計、改進、 檢定及出廠檢驗使用。密封性能的檢測，相關之產品作加速。

二、產品用途

本設備主要用于電子產品、半導體器件、集成電路、光伏組件、汽車電子、航天器件等領域的加速老化測試。通過模擬高溫高濕環境，能夠在較短時間內評估產品的濕熱可靠性、材料穩定性及潛在失效模式，為產品研發、質量控制和壽命評估提供數據支持。

三、滿足標準:

GB2423-2-1-89\GB2423-3-2-89\GB2423-3-89 高溫高壓高濕老化箱執行與滿足標準

1. GB/T10586-1989 濕熱試驗室技術條件；

2. GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗；

3. MIL-STD810D 方法 502.2；

4. GJB150.9-8 溫濕試驗；

5. GB2423.34-86、MIL-STD883C 方法 1004.2 溫濕度、高壓組合循環試驗

四、技術參數

溫度范圍：105℃~143℃

濕度范圍：65%~100%RH

溫濕度偏差溫度：±2.0℃    濕度: ±3% RH  

溫度波動度：≤0.5℃

溫度均勻度：≤2.0℃

壓力范圍：0.2～2.87bar箱內相對壓力（絕對壓力加 1 個大氣壓壓力）

偏壓端子：0~48 個可選

升溫時間常溫： → +143℃  約 60 min

升壓時間常壓： → 2.87bar 約 80 min.

偏壓端子如果做靜態測試可忽略（1600V，AC220V 電流 5A 以內。按客戶要求定制）

五、應用領域

半導體行業：芯片、封裝器件、集成電路的濕熱可靠性測試

電子元器件：電容、電阻、連接器、PCB的耐久性評估

汽車電子：ECU、傳感器、線束等在高溫高濕環境下的性能驗證

光伏領域：太陽能電池、組件的濕熱老化測試

航空航天：機載設備、衛星部件的環境適應性試驗

材料研究：高分子材料、涂層、膠粘劑的耐濕熱性能分析